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达高特 CMXDL+ 超声波测厚仪

简要描述:达高特CMXDL+超声波测厚仪性能全面,功能强大。搭载多种测量模式,可匹配双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔形),拥有USB Type-C数据接口,内置4GB SD存储卡。


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